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Techniques élémentaires

La microscopie électronique à balayage couplée à un spectromètre en dispersion d’énergie (MEB-EDS) :

Le spectromètre en dispersion d’énergie (EDS) permet d’obtenir la composition élémentaire des pigments d’une peinture (Fe pour des oxydes de fer, Hg pour le cinabre, As pour le réalgar, Cu pour de l’azurite, etc.) ou déterminer la teneur chimique des différents éléments (ex: Si, Ca, K, Na, Mg, Fe, etc.) dans les objets siliceux. La microscopie électronique à balayage (MEB) permet, entre autres, de visualiser à très fort grossissement la morphologie et l’agencement des cristaux et des fibres dans un échantillon.

La micro-analyse élémentaire de fluorescence X portable (SFX) :

La spectroscopie en fluorescence X portable (SFX) permet de déterminer la composition exacte d’un alliage sans faire de prélèvements. Elle permet d’obtenir la composition élémentaire des pigments d’une peinture (Fe pour des oxydes de fer, Hg pour le cinabre, As pour le réalgar, Cu pour de l’azurite, etc.) ou déterminer la teneur chimique des différents éléments (ex: Si, Ca, K, Mg, Fe, etc.) dans les objets siliceux. La SFX est également un parfait outil pour détecter les éléments toxiques inorganiques tels que le plomb, l’arsenic ou le mercure.

La microsonde électronique (EMPA) :

La microsonde électronique tout comme la microscopie électronique à balayage couplée à un spectromètre en dispersion d’énergie (MEB-EDS), permettent d’effectuer des analyses quantitatives poussées. Ces techniques permettent par exemple, de caractériser la composition d’un métal mais également d’évaluer l’adéquation chronologique de cet alliage et de ses altérations avec l’époque présumée de l ’objet.

La spectrométrie ICP couplée à un spectromètre de masse (ICP-MS) :

La spectrométrie de masse couplée à un plasma inductif (ICP-MS) permet, par le biais d’analyses plus poussées d’obtenir des concentrations de l’ordre du ppm (parts-par-million) et de déterminer les éléments à l’état de traces dans les objets étudiés (ex: le vanadium (V), thorium (Th), plomb (Pb), etc. dans les verres et céramiques). Ces éléments permettent souvent de déterminer la source des matières premières utilisées lors de la fabrication.

Nano-SIMS